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导师介绍
姓名 李晓维  性别 男 
联系方式 lxw@ict.ac.cn  职称 研究员 
研究方向 数字VLSI电路测试及可靠性设计; 容错计算 
个人介绍
简历:

  李晓维:1964年9月出生于安徽省肥西县;现任计算机体系结构国家重点实验室常务副主任、中科院计算所学位评定委员会副主席。李晓维于1985和1988年分别获得合肥工业大学计算机系学士和硕士学位、1991年获中科院计算所博士学位。1993年任北京大学计算机系副教授;2000年任中科院计算所研究员;2013年入选国家百千万人才工程并获“有突出贡献中青年专家”荣誉称号;入选2014年“科技北京”百名领军人才培养工程。

  2000年以来主要研究领域为VLSI测试、容错计算。先后主持国家自然科学基金重点项目2项、973课题2项、863项目2项、北京市科技重点项目1项、XX预研项目1项;合作出版专著4本;在包括ISCA/HPCA/DSN/DAC/ICCAD等IEEE国际学术会议、IEEE/ACM Transactions等国际学术刊物、中国科学/JCST等国内学术刊物上合作发表学术论文200余篇(其中SCI收录50余篇);授权发明专利50余件、软件著作权登记50余项。先后获得中国科学院自然科学奖(1992年度)、杰出科技成就奖(CPU团队/2003年度)、教学成果奖(2008年度);获得中国计算机学会王选奖(2008年度)、中国质量学会质量技术奖(2011年度);北京市科学技术奖(2007年度和2008年度);国家技术发明奖(2012年度)。

  现任中国计算机学会常务理事、容错计算专业委员会主任;Journal of Computer Science and Technology (JCST)副主编;Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA) 和Journal of Low Power Electronics (JOLPE)编委;IEEE Asia and Pacific Regional TTTC Vice-Chair;IEEE ATS Steering Committee Chair(2011-2013);IEEE WRTLT Steering Committee Chair(2008-2010);担任IEEE ITC/VTS/DATE等国际学术会议程序委员会委员。  

研究方向:
数字VLSI电路测试及可靠性设计; 容错计算
社会任职:

  

1. 中国计算机学会常务理事

2. 中国计算机学会容错计算专业委员会主任

3. IEEE Asian & Pacific Regional TTTC (Test Technology Technical Council) Vice-Chair

4. Journal of Computer Science and Technology (JCST) 副主编

5. Journal of Electronic Testing: Theory and Application (JETTA) 编委

6. Journal of Low Power Electronics (JOLPE) 编委

 

获奖及荣誉:

  

主要获奖:

(1) 国家技术发明奖(二等奖/2012/排名第1):星载微处理器系统验证-测试-恢复技术及应用

(2) 中国质量协会质量技术奖(一等奖/2011/排名第1):高性能处理芯片的测试和可靠性设计关键技术

(3) 中国质量协会质量技术奖(可靠性管理优秀项目/2009/排名第1):具有自修复能力的微处理器可靠性设计

(4) 中国计算机学会“王选”奖(二等奖/2008/排名第1):数字电路测试若干关键技术及其在微处理器测试中的应用

(5) 中国科学院“教学成果奖”(一等奖/2008/排名第3):面向计算机系统结构领域高级人才培养的课程体系建设

(6) 北京市科学技术奖(三等奖/2008/排名第1):数字电路实速测试和故障诊断技术及应用

(7) 北京市科学技术奖(三等奖/2007/排名第1):集成电路逻辑测试与验证基础技术

(8) 中国科学院“杰出科技成就奖”(荣誉/2003/排名第5):龙芯CPU研究集体

(9) 中国科学院“自然科学奖”(二等奖/1992/排名第5):测试方法研究及应用

 

主要荣誉:

[1] “科技北京”百名领军人才培养工程(2014):中科院计算所测试与容错技术创新团队

[2] 国家“有突出贡献中青年专家”(荣誉称号/2013)

[3] 国家“百千万人才工程”(2013)

[4] 中国科学院“优秀研究生指导教师”奖(2012)

[5] 中国科学院“朱李月华优秀教师”奖(2009)

[6] 国务院政府特殊津贴(2009)

[7] 中国科学院研究生院“集中教学突出贡献奖”(2008)

[8] 中国科学院“优秀研究生指导教师”奖(2007)

[9] 中国科学院“优秀研究生导师”奖(2006)

[10] 中国科学院研究生院“优秀教师”(荣誉称号/2006)

 

代表论著:

 

部分学术著作:

(1) 李晓维, 吕涛, 李华伟, 李光辉 著《数字集成电路设计验证: 量化评估, 激励生成, 形式化验证》, 科学出版社, 2010年5月, 411页

(2) 李晓维, 韩银和, 胡瑜, 李佳 著《数字集成电路测试优化: 测试压缩, 测试功耗优化, 测试调度》, 科学出版社, 2010年6月, 344页

(3) 李晓维, 胡瑜, 张磊, 鄢贵海 著《数字集成电路容错设计: 容缺陷/故障, 容参数偏差, 容软错误》, 科学出版社, 2011年4月, 433页

  

部分期刊论文:

[1] Y. Fang, H. Li, Xiaowei Li, “Lifetime Enhancement Techniques for PCM-Based Image Buffer in Multimedia Applications”, IEEE Transactions on VLSI Systems, Vol.22, No.5, May 2014, pp.1450-1455

[2] J. Ye, Y. Hu, Xiaowei Li, Wu-Tung Cheng, Yu Huang, and Huaxing Tang, “Diagnose Failures Caused by Multiple Locations At-a-Time”, IEEE Transactions on VLSI Systems, Vol.22, No.4, April 2014, pp.824-837

[3] K. Huang, Y. Hu, Xiaowei Li, “A Reliability-Oriented Placement and Routing Algorithm for SRAM-based FPGAs”, IEEE Transactions on VLSI Systems, Vol.22, No.2, Feb 2014, pp.256-269

[4] B. Fu, Y. Han, H. Li, Xiaowei Li, “ZoneDefense: A Fault-Tolerant Routing for 2D Meshes Without Virtual Channels”, IEEE Transactions on VLSI Systems, Vol.22, No.1, Jan 2014, pp.113-126

[5] Y. Zhang, H. Li, Xiaowei Li, “Automatic Test Program Generation Using Executing Trace Based Constraint Extraction for Embedded Processors”, IEEE Transactions on VLSI Systems, Vol.21, No.7, July 2013, pp.1220-1233

[6] Z. He, T. Lv, H. Li, Xiaowei Li, “Test Path Selection for Capturing Delay Failures under Statistical Timing Model”, IEEE Transactions on VLSI Systems, Vol.21, No.7, July 2013, pp.1210-1219

[7] S. Jin, Y. Han, H. Li, Xiaowei Li, “Unified Capture Scheme for Small Delay Defect Detection and Aging Prediction”, IEEE Transactions on VLSI Systems, Vol.21, No.5, May 2013, pp.821-833

[8] Y. Chen, L. Zhang, Y. Han, Xiaowei Li, “Thermal-Constrained Scheduling for Interconnect Energy Reduction in 3D Homogeneous MPSoCs”, IEEE Transactions on VLSI Systems, Vol.21, No.2, Feb. 2013, pp.239-249

[9] S. Pei, H. Li, Xiaowei Li, “Flip-flop Selection for Partial Enhanced Scan to Reduce Transition Test Pattern Volume”, IEEE Transactions on VLSI Systems, Vol.20, No.12, Dec. 2012, pp.2157-2169

[10] S. Pei, H. Li, Xiaowei Li, “A High-Precision On-Chip Path Delay Measurement Architecture”, IEEE Transactions on VLSI Systems, Vol.20, No.09, Sept 2012, pp.1565-1577

[11] S. Pan, Y. Hu, Xiaowei Li, “IVF: Characterizing the Vulnerability of Microprocessor Structures to Intermittent Faults”, IEEE Transactions on VLSI Systems, Vol.20, No.05, May 2012, pp.777-790

[12] X. Fu, H. Li, Xiaowei Li, “Testable Path Selection and Grouping for Faster Than At-Speed Testing”, IEEE Transactions on VLSI Systems, Vol.20, No.02, February 2012, pp.236-247

[13] M. Zhang, H. Li, Xiaowei Li, “Path Delay Test Generation Toward Activation of Worst Case Coupling Effects”, IEEE Transactions on VLSI Systems, Vol.19, No.11, November 2011, pp.1969-1982

[14] Y. Zhang, H. Li, Y. Min, Xiaowei Li, “Selected Transition Time Adjustment for Tolerating Crosstalk Effects on Network-on-Chip Interconnects”, IEEE Transactions on VLSI Systems, Vol.19, No.10, October 2011, pp.1787-1800

[15] G. Yan, Y. Han, Xiaowei Li, “SVFD: A Versatile Online Fault Detection Scheme via Checking of Stability Violation”, IEEE Transactions on VLSI Systems, Vol.19, No.9, September 2011, pp.1627-1640

[16] G. Yan, Y. Han, Xiaowei Li, “ReviveNet: A Self-adaptive Architecture for Improving Lifetime Reliability via Localized Timing Adaptation”, IEEE Transactions on Computers, Volume 60, Issue 9, September 2011, pp.1219-1232

[17] D. Fan, Xiaowei Li, G. Li, “New Methodologies for Parallel Architecture”, Journal of Computer Science and Technology, 26(4): 578-584, July 2011

[18] G. Yan, Y. Han, H. Liu, X. Liang, Xiaowei Li, “Microfix: Using timing interpolation and delay sensors for power reduction”, ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems, March 2011, Vol. 16, No. 2, Article 16:1-21

[19] Z. An, H. Zhu, C. Xu, Y. Xu, Xiaowei Li, “Synchronization of Linear Pulse-coupled Oscillators with Different Frequency”, IEEE Transactions on Industry Electronics, Vol.58, No.6, June 2011, pp. 2205-2215

[20] Y. Yang, Y. Xu, Xiaowei Li, “A Loss Inference Algorithm for Wireless Sensor Networks to Improve Data Reliability of Digital Ecosystems”, IEEE Transactions on Industry Electronics, Vol.58, No.6, June 2011, pp. 2126-2137

[21] J. Li, Q. Xu, Y. Hu, Xiaowei Li, “X-Filling for Simultaneous Shift- and Capture- Power Reduction in At-Speed Scan-Based Testing”, IEEE Transactions on VLSI Systems, Vol.18, No.7, July. 2010, pp.1081-1092

[22] L. Zhang, Y. Han, Q. Xu, Xiaowei Li, H. Li, “On Topology Reconfiguration for Defect-Tolerant NoC-Based Homogeneous Manycore Systems”, IEEE Transactions on VLSI Systems, Vol.17, No.9, Sept. 2009, pp.1173-1186

[23] Y. Han, Y. Hu, Xiaowei Li, A. Chandra, Huawei Li, “Embedded Test Decompressor to Reduce the Required Channels and Vector Memory of Tester for System-on-a-Chip”, IEEE Transactions on VLSI Systems, Vol.15, No.5, May 2007, pp.531-540

 

承担科研项目情况:

 

主持的部分项目:

[1] 973课题“大规模高通量计算系统的可靠性设计”(2011CB302503);

[2] 973课题“高性能处理芯片的可靠性设计”(2005CB321604);

[3] NSFC重点项目“数字VLSI电路测试技术研究”(60633060);

[4] NSFC重点项目“从行为级到版图级的设计验证与测试生成”(60207002);

[5] NSFC项目“微处理器自修复设计基础技术研究”(90707004);

[6] NSFC与RGC联合资助项目“片上系统测试架构设计与优化:针对噪声引起的测试良产率下降的研究”(60831160526);

[7] 863项目“大规模高可靠片上多处理器的系统结构及实现方法”(2007AA01Z113);

[8] 863项目“软硬件协同的低功耗系统设计”(2001AA111070);

[9] 北京市科技重点课题“IC设计验证/测试关键技术研发与实用”(H020120140130);

[10] XX预研项目“软件可靠性测试基础技术” (41315050102);

 

学科类别:
计算机系统结构
所属部门:
计算机体系结构国家重点实验室
专家类别:
正高
杰青入选时间:
百人入选时间:
其他备注:
博导计算机系统结构
其他备注2:
 
其他备注3:
 
 
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